m m
S 1/(N – ni–1) – S Xi 2 /2 = 0
i =1 i =1
m
n/c – S (N – ni–1 ) Xi 2 / 2 = 0
i =1
К выходным показателям надежности относительно продолжительности T относятся:
– число оставшихся ошибок Mт = N–m;
– среднее время до следующего отказа MTт = (p / (2 ( N–m) c) ) 1/2 ;
– среднее время до завершения тестирования и его дисперсия
N–m
E (Tp) = S (p / (2 i c)) 1/2 ,
i=1
N–m
Var (Tp) = S ( (2– p /2) / i c );
i=1
Функция надежности вычисляется по формуле:
R Т
( t) = exp (–(N–m) ct2 /2) , t ³ 0.
Модель Пуассоновского типа базируется на выявлении отказов и моделируется неоднородным процессом, который задает {M(t), t³0} – неоднородный пуассоновский процесс с функцией интенсивности l(t), что соответствует общему количеству отказов ПС за время его использования t.
Модель Гоело–Окумото. В основе этой модели лежит описание процесса обнаружения ошибок с помощью неоднородного Пуассоновского процесса, ее можно рассматривать как модель экспоненциального роста. В этой модели интенсивность отказов также зависит от времени. Кроме того, в ней количество выявленных ошибок трактуется как случайная величина, значение которой зависит от теста и других условных факторов.
Исходные данные этой модели: